Instituttet har en Tescan VEGA scanningelektronmikroskop (SEM) der kan tage billeder af meget små emner og samtidigt kvantificere grundstofindholdet.

SEM kan bruges til forskning og undervisning indenfor en lang række discipliner bl.a. geoscience, arkæologi, bioscience, materialevidenskab, ingeniørvidenskab og kemi, hvor man fx ønsker at undersøge partikelmorfologi (partikelstørrelse, form, struktur m.m.) og karakterisere mineraler, metaller, bjergarter, kulbrinte-forbindelser, mikrofossiler og andre faststoffer in situ.

Scanningelektronmikroskopet kan lave forskellige typer analyser, fx punktvis, line-scan eller mapping. Præparaterne kan være enkeltpartikler eller prøvemateriale monteret på stubbe, tyndslib eller polerede blokke.

Tekniske fakta:

• Opløsning (normalt): 3-10 nm.
• Prøveholder: Rotation 360 grader og tiltning -60 til +90 grader.
• Katode: Tungsten med energiinterval 200 eV til 30 keV, strøm 1 pA til 2 µA.
• Detektor: Oxford Xplore EDS med X1 puls-processor (mapping tælletal > 1.000.000 cps og kvantitativ analyse >100.000 cps).
• Grundstoffer: Fra bor (B) til californium (Cf) i det periodiske system.
• Maximum field of view: 7.7 mm med en arbejdsdistance (WD) på 10 mm til over 50 mm ved maximal WD.
• Forstørrelse: 2x til 1.000.000x.
• Max. prøve højde: 54 mm (eller 81 mm uden roterende platform).
• Max. billedstørrelse: 16.000 x 16.000 pixels (TIFF, PNG, BMP, JPEG og GIF).

Afhængigt af materialet anbefales det at coate præparatet med fx kul, platin eller guld.