Instituttet har et PANalytical X'Pert Pro MPD røntgendiffraktometer (XRD) til identifikation og kvantificering af krystallinske materialer ved pulver-røntgendiffraktometri og lermineraler på orienterede præparater.
XRD analyser kan udføres på henholdsvis bulk præparater (0,5-1 g tørret og nedknust pulver af hele prøven) og ler præparater (1 "smear slide" af ler fraktionen under 0.002 mm der måles 3 gange ved forskellige indstillinger). Ler-fraktionen opkoncentreres ved gentagen sedimentation. Som udgangspunkt benyttes normalt 10-15 g prøve, mængden afhænger af fugtighed og forventet lerindhold. Ler-fraktionen smøres efterfølgende på en glasplade. Efter tørring har ler-laget en tykkelse på 0.1mm.
Bulk og ubehandlede ler præparater køres normalt på et 10 minutters program i vinkler på 2-65o.
Ethylen-glycolerede og opvarmede (500oC) ler præparater køres normalt på et 5 minutters program i vinkler på 2-35o.
Følgende mineraler kan identificeres og kvantificeres på bulk præparater: Magnetit, hæmatit, pyrit, siderit, apatit, halit, rhodokrosit, dolomit, augit, calcit, baryt, jarosit, plagioklas, K-feldspat, aragonit, anhydrit, cristobalit, kvarts, gibbsit, gips, amfibol, clinoptilolit/heulandit.
Følgende mineraler kan identificeres og kvantificeres ved lermineralogi: Kaolinit, illit, chlorit, vermiculit, smectit.
Generator indstillingerne er under måling 45 kV og 40 mA.
Anoden er af kobber og monochromatoren på den indkommende stråle er en germanium krystal.
3 prøveholdere med plads til 15 præparater i hver giver mulighed for at køre i alt 45 prøver ad gangen.
Download:
